Kontaktujte nás | Jazyk: čeština English
| Zobrazení | |
|---|---|
| Characterization of epitaxial layers using scanning microwave microscopy | 765 |
| duben 2026 | květen 2026 | červen 2026 | červenec 2026 | srpen 2026 | září 2026 | říjen 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Characterization of epitaxial layers using scanning microwave microscopy | 2 | 12 | 13 | 17 | 6 | 17 | 0 |
| Zobrazení | |
|---|---|
| Fulltext_1006767.pdf | 285 |
| Zobrazení | |
|---|---|
| United States | 561 |
| Germany | 39 |
| Vietnam | 23 |
| China | 16 |
| Brazil | 15 |
| Japan | 14 |
| Canada | 6 |
| United Kingdom | 6 |
| Ireland | 5 |
| Sweden | 5 |
| Zobrazení | |
|---|---|
| Ashburn | 309 |
| Fairfield | 37 |
| Louisville | 25 |
| San Mateo | 25 |
| Mountain View | 17 |
| Tokyo | 14 |
| Cambridge | 13 |
| Hanoi | 13 |
| San Jose | 9 |
| Des Moines | 8 |