Statistiky

Návštěvy celkem

Zobrazení
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 664

Návštěvy celkem za měsíc

květen 2025 červen 2025 červenec 2025 srpen 2025 září 2025 říjen 2025 listopad 2025
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 1 6 24 9 36 7 21

Stažení souborů

Zobrazení
Fulltext_1006592.pdf 2

Nejvíce zobrazení ze země

Zobrazení
United States 516
Germany 42
Japan 13
Sweden 13
Ireland 11
Vietnam 9
China 8
Belgium 6
India 5
Australia 4

Nejvíce zobrazení z města

Zobrazení
Ashburn 283
San Mateo 33
Fairfield 31
Louisville 30
Mountain View 16
Tokyo 13
Cambridge 10
Menlo Park 10
San Jose 8
Des Moines 7