Statistiky

Návštěvy celkem

Zobrazení
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 787

Návštěvy celkem za měsíc

duben 2026 květen 2026 červen 2026 červenec 2026 srpen 2026 září 2026 říjen 2026
Quality control in microelectronics using scanning probe microscopy 4 11 9 13 4 23 0

Stažení souborů

Zobrazení
Fulltext_1006592.pdf 2

Nejvíce zobrazení ze země

Zobrazení
United States 560
Germany 42
China 19
Vietnam 18
Japan 17
Sweden 13
Argentina 11
Ireland 11
Brazil 8
India 8

Nejvíce zobrazení z města

Zobrazení
Ashburn 285
San Mateo 34
Fairfield 31
Louisville 30
Mountain View 18
Tokyo 17
Cambridge 14
Hanoi 14
San Jose 14
Menlo Park 10